基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量

doi:10.13873/j.1000-97872004.07.019

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基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量

更新时间：2025-09-11

- 基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量
- Issue 7, Pages: 57-59(2004)
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- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13873/j.1000-97872004.07.019
  CLC： TP274
- Published：2004
- 稿件说明：
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[J]. 2004, (7): 57-59.
DOI：

[J]. 2004, (7): 57-59. DOI： 10.13873/j.1000-97872004.07.019.

摘要

通过分析基于线阵CCD传感器的一维尺寸测量原理

提出了采用拼接技术测量较大一维尺寸的测量方案

并系统分析了该方案的测量误差。实验表明:采用该方案进行一维尺寸测量时

可以达到较大的测量范围和较高的测量准确度。

Abstract

关键词

Keywords

references

张展霞,刘洪涛,何家耀.电荷耦合器件及其应用进展[J].光谱学与光谱分析,2000(02).

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