介绍半导体外延片霍尔效应测试的理论和方法

利用霍尔效应测试可以更好地研究半导体材料电学性能

在外延片的研制过程中测试外延层的载流子浓度

利用范德堡法测试电阻率以及载流子迁移率等参数。