电缆型温度探测器的失效分析与寿命试验

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电缆型温度探测器的失效分析与寿命试验

更新时间：2025-09-11

- 电缆型温度探测器的失效分析与寿命试验
- Issue 2, Pages: 30-32(1997)
- 作者机构：
  
  重庆仪表材料研究所,重庆,630700
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13873/j.1000-97871997.02.011
  CLC： TP21
- Published：1997
- 稿件说明：
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[J]. 1997, (2): 30-32.
DOI：

[J]. 1997, (2): 30-32. DOI： 10.13873/j.1000-97871997.02.011.

摘要

介绍了电缆型温度探测器的工作原理，分析了损坏性的和漂移性的失效机理，并举例介绍了寿命试验。

Abstract

关键词

Keywords

references

茆诗松,王玲玲编著.可靠性统计[M].华东师范大学出版社,1984.

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