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基于剪切波变换的光学元件表面缺陷检测方法
更新时间:2025-09-11
    • 基于剪切波变换的光学元件表面缺陷检测方法

    • Issue 6, Pages: 116-119(2023)
    • DOI:10.13873/J.1000-9787(2023)06-0116-04    

      CLC: TH74;TP391.41
    • Published:2023

    移动端阅览

  • [J]. 2023, (6): 116-119. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2023)06-0116-04.

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