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微谐振器的单端口静电激励—电容检测方法研究
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 微谐振器的单端口静电激励—电容检测方法研究

    • Research on one-port electrostatic excitation and capacitive detecting method for micro-resonator

    • 传感器与微系统   2012年31卷第7期 页码:36-38+41
    • DOI:10.13873/j.1000-97872012.07.034    

      中图分类号: TP212.1
    • 纸质出版:2012

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  • [1]樊尚春,陈晨,邢维巍.微谐振器的单端口静电激励—电容检测方法研究[J].传感器与微系统,2012,31(07):36-38+41. DOI: 10.13873/j.1000-97872012.07.034.

    FAN Shang-chun, CHEN Chen, XING Wei-wei. Research on one-port electrostatic excitation and capacitive detecting method for micro-resonator[J]. 2012, 31(7): 36-38+41. DOI: 10.13873/j.1000-97872012.07.034.

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