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半导体器件测试设备中的微弱电流测量模块设计
设计与制造 | 更新时间:2025-09-11
    • 半导体器件测试设备中的微弱电流测量模块设计

    • Design on weak current measuring module in semiconductor test equipment

    • 传感器与微系统   2011年30卷第10期 页码:115-117
    • DOI:10.13873/j.1000-97872011.10.014    

      中图分类号: TN307
    • 纸质出版:2011

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  • [1]赵章琰,李勇滔,夏洋,李超波,李力军,李瑞麟.半导体器件测试设备中的微弱电流测量模块设计[J].传感器与微系统,2011,30(10):115-117. DOI: 10.13873/j.1000-97872011.10.014.

    ZHAO Zhang-yan1, LI Yong-tao1, XIA Yang1, et al. Design on weak current measuring module in semiconductor test equipment[J]. 2011, 30(10): 115-117. DOI: 10.13873/j.1000-97872011.10.014.

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