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电化学腐蚀中多孔硅边缘效应的研究
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 电化学腐蚀中多孔硅边缘效应的研究

    • Research of boundary effects in thick porous silicon membranes

    • 传感器与微系统   2010年29卷第10期 页码:49-51
    • DOI:10.13873/j.1000-97872010.10.006    

      中图分类号: O613.72
    • 纸质出版:2010

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  • [1]张圣,焦继伟,葛道晗,顾佳晔,严培力,张颖.电化学腐蚀中多孔硅边缘效应的研究[J].传感器与微系统,2010,29(10):49-51. DOI: 10.13873/j.1000-97872010.10.006.

    ZHANG Sheng1, JIAO Ji-wei2, GE Dao-han1, et al. Research of boundary effects in thick porous silicon membranes[J]. 2010, 29(10): 49-51. DOI: 10.13873/j.1000-97872010.10.006.

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