您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
基于CVI的红外探测器元件评估系统
设计与制造 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于CVI的红外探测器元件评估系统

    • CVI-based evaluation system for infrared detector elements

    • 传感器与微系统   2010年29卷第9期 页码:91-93
    • DOI:10.13873/j.1000-97872010.09.011    

      中图分类号: TN215
    • 纸质出版:2010

    移动端阅览

  • [1]杨帮华,郑晓明,张永怀,董峥.基于CVI的红外探测器元件评估系统[J].传感器与微系统,2010,29(09):91-93. DOI: 10.13873/j.1000-97872010.09.011.

    YANG Bang-hua1, ZHENG Xiao-ming1, ZHANG Yong-huai2, et al. CVI-based evaluation system for infrared detector elements[J]. 2010, 29(9): 91-93. DOI: 10.13873/j.1000-97872010.09.011.

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

53

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

基于LabVIEW的磁阻自动优化测量系统
虚拟电容式传感器检测系统的设计与应用
基于虚拟仪器的电磁干扰自动测试系统
非致冷双材料红外探测器模拟分析
面向结构健康监测的高速数据采集系统的研究

相关作者

吴东阳
姚志宏
高梅娟

相关机构

中国科学院微电子研究所
中国科学院大学
中国科学院微电子器件与集成技术重点实验室
温州职业技术学院电气电子工程系
0