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基于CMOS迁移率与阈值电压特性的温度传感器
设计与制造 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于CMOS迁移率与阈值电压特性的温度传感器

    • A CMOS temperature sensor based on the mobility and threshold voltage temperature effects

    • 传感器与微系统   2010年29卷第5期 页码:102-104+108
    • DOI:10.13873/j.1000-97872010.05.033    

      中图分类号: TP212.11
    • 纸质出版:2010

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  • [1]李蕾,毛陆虹,黄晓综,谢生,张世林.基于CMOS迁移率与阈值电压特性的温度传感器[J].传感器与微系统,2010,29(05):102-104+108. DOI: 10.13873/j.1000-97872010.05.033.

    LI Lei1, MAO Lu-hong1, HUANG Xiao-zong1, et al. A CMOS temperature sensor based on the mobility and threshold voltage temperature effects[J]. 2010, 29(5): 102-104+108. DOI: 10.13873/j.1000-97872010.05.033.

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