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基于阵列涡流技术的裂纹特征量研究
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于阵列涡流技术的裂纹特征量研究

    • Research on defect characters based on array eddy current testing

    • 传感器与微系统   2010年29卷第2期 页码:80-82+86
    • DOI:10.13873/j.1000-97872010.02.032    

      中图分类号: TP212.13
    • 纸质出版:2010

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  • [1]何永勃,邵雨果.基于阵列涡流技术的裂纹特征量研究[J].传感器与微系统,2010,29(02):80-82+86. DOI: 10.13873/j.1000-97872010.02.032.

    HE Yong-bo, SHAO Yu-guo. Research on defect characters based on array eddy current testing[J]. 2010, 29(2): 80-82+86. DOI: 10.13873/j.1000-97872010.02.032.

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