高过载存储测试中抗过载技术的研究

文丰; 乔建忠; 李艳

doi:10.13873/j.1000-97872009.09.009

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高过载存储测试中抗过载技术的研究

研究与探讨 | 更新时间：2025-09-11

- 高过载存储测试中抗过载技术的研究
- Study on anti over-loaded technology in high over-loaded storage testing
- 传感器与微系统 2009年28卷第9期页码：31-33
- 作者机构：
  
  中北大学电子测试技术国家重点实验室
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金资助项目（50675212）
- DOI：10.13873/j.1000-97872009.09.009
  中图分类号： TP333
- 纸质出版：2009
- 稿件说明：
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[1]文丰,乔建忠,李艳.高过载存储测试中抗过载技术的研究[J].传感器与微系统,2009,28(09):31-33.

WEN Feng, QIAO Jian-zhong, LI Yan. Study on anti over-loaded technology in high over-loaded storage testing[J]. 2009, 28(9): 31-33.
[1]文丰,乔建忠,李艳.高过载存储测试中抗过载技术的研究[J].传感器与微系统,2009,28(09):31-33. DOI： 10.13873/j.1000-97872009.09.009.

WEN Feng, QIAO Jian-zhong, LI Yan. Study on anti over-loaded technology in high over-loaded storage testing[J]. 2009, 28(9): 31-33. DOI： 10.13873/j.1000-97872009.09.009.

摘要

介绍了高过载存储测试的系统组成和设计原理。对记录器抗高过载能力进行理论分析和试验证明

从电路和结构设计方面考虑提高抗高过载能力。应用ANSYS软件对结构进行仿真

并采用缓冲和灌封技术相结合的方案

使得防护效果更佳。经过试验证明:这种方案具有很高的可靠性。

Abstract

The constitute and design theory of high over-loaded storage testing system are introduced.Theoretic analysis and experiment prove to the anti-high over-loaded capacity of recorder

the anti-high over-loaded capacity in circuit and structure design is improved.Structure simulation is made by ANSYS and combined cushioning with envelop.Examination shows that the way has high reliability.

关键词

Keywords

references

基于USB总线的高速数据采集存储测试系统的设计 [J]. 文丰,赵小珍,甄国涌. 电测与仪表 . 2007(11)

存储测试系统的设计理论及其应用[M]. 高等教育出版社 , 张文栋[著], 2002

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