您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
基于克隆选择和聚类的模拟电路故障诊断技术
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于克隆选择和聚类的模拟电路故障诊断技术

    • Analog fault diagnosis technology based on clonal selection and clustering

    • 传感器与微系统   2009年28卷第4期 页码:43-46
    • DOI:10.13873/j.1000-97872009.04.010    

      中图分类号: TN710
    • 纸质出版:2009

    移动端阅览

  • [1]田锡宇,王友仁,崔江.基于克隆选择和聚类的模拟电路故障诊断技术[J].传感器与微系统,2009,28(04):43-46. DOI: 10.13873/j.1000-97872009.04.010.

    TIAN Xi-yu, WANG You-ren, CUI Jiang. Analog fault diagnosis technology based on clonal selection and clustering[J]. 2009, 28(4): 43-46. DOI: 10.13873/j.1000-97872009.04.010.

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

93

下载量

1

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

基于图神经网络的异构多传感器融合交流电机故障诊断
多传感器融合的煤矿井下带式输送机智能监测方法及应用
基于柔性压电薄膜的人体脉搏采集与心率评估系统
基于GSA-SVM的谱仪放大器故障诊断研究
基于改进混合高斯模型的铁轨异物入侵检测方法

相关作者

郭辉
陈友兴
李孝宇
白海东
徐瑞博
宋胜伟
叶国永
肖振宇

相关机构

山西晋中理工学院 智能制造与车辆学院
中北大学 信息与通信工程学院
鄂尔多斯市昊华精煤有限责任公司
黑龙江科技大学 机械工程学院
郑州轻工业大学 机电工程学院
0