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GaAs光导开关耐压试验研究
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • GaAs光导开关耐压试验研究

    • Research on withstand voltage experiment of GaAs photoconductive switch

    • 传感器与微系统   2008年27卷第12期 页码:24-26
    • DOI:10.13873/j.1000-97872008.12.012    

      中图分类号: TN25
    • 纸质出版:2008

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  • [1]刘娟,时世泰,李寅鑫,戴文明.GaAs光导开关耐压试验研究[J].传感器与微系统,2008,27(12):24-26. DOI: 10.13873/j.1000-97872008.12.012.

    LIU Juan, SHI Shi-tai, LI Yin-xin, et al. Research on withstand voltage experiment of GaAs photoconductive switch[J]. 2008, 27(12): 24-26. DOI: 10.13873/j.1000-97872008.12.012.

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