您当前的位置:
首页 >
文章列表页 >
基于D-S融合的电子电路故障诊断研究
更新时间:2025-09-11
    • 基于D-S融合的电子电路故障诊断研究

    • Study on electronic circuit fault diagnosis based on D-S evidential theory

    • 传感器与微系统   2006年第9期 页码:17-19
    • DOI:10.13873/j.1000-97872006.09.006    

      中图分类号: TN707
    • 纸质出版:2006

    移动端阅览

  • [1]李端,余发山.基于D-S融合的电子电路故障诊断研究[J].传感器与微系统,2006(09):17-19. DOI: 10.13873/j.1000-97872006.09.006.

    LI Duan, YU Fa-shan. Study on electronic circuit fault diagnosis based on D-S evidential theory[J]. 2006, (9): 17-19. DOI: 10.13873/j.1000-97872006.09.006.

  •  
  •  
icon
试读结束,您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束,您可以通过登录账户,到个人中心,购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员?
去登录 >

0

浏览量

118

下载量

10

CSCD

文章被引用时,请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

基于证据理论与不精确概率的振动故障诊断
基于多传感器信息融合的侵彻引信计层算法
基于EEMD的多传感器信息融合降噪方法
多传感器信息融合在滚动轴承故障诊断中的应用
基于LLSSVM的MUH高度信息融合技术的研究

相关作者

王晶晶
梁青
任慧玲
郝永平
李金峰
刘新让
吕艳新
李海涛

相关机构

中国科学技术大学自动化系
沈阳理工大学 装备工程学院
西安机电信息技术研究所
环境保护部核与辐射安全中心
武警工程大学
0