纸质出版:2005
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硅KOH腐蚀<100>晶向凸角补偿技术及应用[J]. 传感器与微系统, 2005,(7):22-24.
硅KOH腐蚀<100>晶向凸角补偿技术及应用[J]. 传感器与微系统, 2005,(7):22-24. DOI: 10.13873/j.1000-97872005.07.008.
DOI:
在(100)硅上制作边沿<100>晶向的长方形掩模
用KOH各向异性腐蚀液腐蚀可制得竖直微镜
这种微镜存在凸角削角问题。研究了边沿<100>晶向掩模的凸角补偿技术
提出了2种凸角补偿图形
并应用于竖直微镜制作。实验表明“工”形补偿可获得方正的反射面;“Y”形补偿的微镜
反射面呈底角为75.96°的梯形。经补偿后的微镜
可提高光开关切换光束效率。讨论了(100)硅的<100>晶向掩模凸角补偿技术应用于微机械加速度计质量块制作的可能性。
王浙辉,李铁,王跃林.大位移自对准光开关微动作器的模拟和制作[J].功能材料与器件学报,2003(03).
鲍敏杭,沈绍群,胡澄宇,马青华.硅各向异性腐蚀<110>条补偿图形腐蚀前沿控制[J].半导体学报,1994(11).
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