运输包装黑匣子的研究

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运输包装黑匣子的研究

更新时间：2025-09-11

- 运输包装黑匣子的研究
- 暂无标题
- 传感器与微系统 2004年第9期页码：10-12
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  陕西省教委专项科研基金资助(03JK164)
- DOI：10.13873/j.1000-97872004.09.004
  中图分类号： TB485
- 纸质出版：2004
- 稿件说明：
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运输包装黑匣子的研究[J]. 传感器与微系统, 2004,(9):10-12.
运输包装黑匣子的研究[J]. 传感器与微系统, 2004,(9):10-12. DOI： 10.13873/j.1000-97872004.09.004.

DOI：

运输包装损坏主要由流通过程中装卸、运输、存储等环节以及包装物设计本身所造成。介绍了能对上述损坏因素进行全过程监测的黑匣子。通过黑匣子对流通过程中包装件的加速度、温度、湿度进行监测并记录在存储器中

然后

通过对黑匣子记录数据的读取

取得损害原因数据

从而确定损坏原因。

何瑛,朱明武,李永新.膛内多路瞬态信号存储测试技术[J].仪器仪表学报,2001(S1).

汤华,刘庆明,刘长林,白春华.存储测试数据处理软件的设计及应用[J].测试技术学报,2001(01).

河野澄夫,岩元睦夫,宋宝峰.运输包装的模拟技术[J].株洲工学院学报,1999(01).

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