基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量

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基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量

更新时间：2025-09-11

- 基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量
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- 传感器与微系统 2004年第7期页码：57-59
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- DOI：10.13873/j.1000-97872004.07.019
  中图分类号： TP274
- 纸质出版：2004
- 稿件说明：
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基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量[J]. 传感器与微系统, 2004,(7):57-59.
基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量[J]. 传感器与微系统, 2004,(7):57-59. DOI： 10.13873/j.1000-97872004.07.019.

DOI：

通过分析基于线阵CCD传感器的一维尺寸测量原理

提出了采用拼接技术测量较大一维尺寸的测量方案

并系统分析了该方案的测量误差。实验表明:采用该方案进行一维尺寸测量时

可以达到较大的测量范围和较高的测量准确度。

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