非制冷红外探测器非均匀性的校正方法

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非制冷红外探测器非均匀性的校正方法

更新时间：2025-09-11

- 非制冷红外探测器非均匀性的校正方法
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- 传感器与微系统 2004年第5期页码：59-61+64
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- DOI：10.13873/j.1000-97872004.05.019
  中图分类号： TN215
- 纸质出版：2004
- 稿件说明：
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非制冷红外探测器非均匀性的校正方法[J]. 传感器与微系统, 2004,(5):59-61+64.
非制冷红外探测器非均匀性的校正方法[J]. 传感器与微系统, 2004,(5):59-61+64. DOI： 10.13873/j.1000-97872004.05.019.

DOI：

两点温度定标校正算法是非制冷红外探测器的有效的非均匀性校正技术。根据焦平面特性和两点算法

提出一种采用两级存储结构的现场可编程门阵列实现途径:流水运算

采用分级存储校正系数和并行结构运算部件。仿真和试验证明:这种方法具有高速、系数存储大容量、可扩展的特点

适合于大阵列非制冷红外焦平面的实时校正。

徐志军,徐光辉编著.CPLD/FPGA的开发与应用[M].电子工业出版社,2002.

皮德富,赵琦,沈晓燕.红外焦平面阵列两点线性校正法的研究[J].光电子技术,2002(03).

吴诚，苏君红，潘顺臣，冯生荣，金伟其，高稚允.非制冷红外焦平面技术述评(下)[J].红外技术,1999(02).

王钰,陈钱,殷德奎,张保民.实时红外图像非均匀性校正技术研究[J].红外与毫米波学报,1999(02).

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