纸质出版:2002
移动端阅览
用改进的静电探头测量绝缘子表面电荷[J]. 传感器与微系统, 2002,(4):15-17.
用改进的静电探头测量绝缘子表面电荷[J]. 传感器与微系统, 2002,(4):15-17. DOI: 10.13873/j.1000-97872002.04.006.
DOI:
设计了用于绝缘子表面静电荷的测量装置。得到了圆柱型绝缘子的表面电荷分布图。实验研究表明设计的电荷测量装置具有分辨力高、电荷泄漏少的优点。
汪沨,邱毓昌,张乔根,陈庆国.冲击电压作用下影响表面电荷积聚过程的因素分析[J].电工技术学报,2001(05).
0
浏览量
下载量
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构