基于CCD技术的自举式光学水平基准测量方法

Chinese

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

基于CCD技术的自举式光学水平基准测量方法

更新时间：2025-09-11

- 基于CCD技术的自举式光学水平基准测量方法
- 暂无标题
- 传感器与微系统 2001年第2期页码：32-34
- 作者机构：
  
  中船重工集团七一七研究所,湖北,武汉,430074
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13873/j.1000-97872001.02.012
  中图分类号： TP212
- 纸质出版：2001
- 稿件说明：
移动端阅览
李临. 基于CCD技术的自举式光学水平基准测量方法[J]. 传感器与微系统, 2001,(2):32-34.
李临. 基于CCD技术的自举式光学水平基准测量方法[J]. 传感器与微系统, 2001,(2):32-34. DOI： 10.13873/j.1000-97872001.02.012.

DOI：

摘要

提出了一种以CCD器件为传感器的光学水平基准的测量方法

具体介绍了以单片机 89C5 1为核心处理器的水平基准测量电路的软硬件设计。

Abstract

关键词

Keywords

references

王永仲等编著.智能光电系统[M].科学出版社,1999.

0

浏览量

0

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

相关文章

CCD显微摄像法测量孔心距

基于双目视觉的纸箱识别与规格尺寸确认研究

基于FPGA的CCD低噪声测量系统设计

汽车空调温度湿度传感器设计

新型绝对码盘在便携式经纬仪中的应用

相关作者

方陈

肖洒

刘源泂

侯宇

邹光明

许家旺

夏真珍

张俊

相关机构

武汉科技大学冶金装备及其控制教育部重点实验室

武汉科技大学机械传动与制造工程湖北省重点实验室

南京航空航天大学物理实验中心

陕西理工学院陕西省工业自动化重点实验室

湖南商学院计算机与电子工程系

⁰