黑龙江大学敏感技术研究所
纸质出版:1988
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黄虎坤. 3CCM型硅磁敏三极管可靠性的试验研究[J]. 传感器与微系统, 1988,(6):19-18.
黄虎坤. 3CCM型硅磁敏三极管可靠性的试验研究[J]. 传感器与微系统, 1988,(6):19-18. DOI: 10.13873/j.1000-97871988.06.006.
DOI:
3CCM型硅磁敏三极管长期贮存寿命试验和加热老化试验表明
它的零场集电极电流相对时漂概率分布极值在1%以内
且时漂概率分布与老化时间呈对数关系。
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