Chinese
您当前的位置：
首页 >
文章列表页 >
离子注入吸杂技术在64楔环硅光电二极管阵列探测器中的应用
更新时间：2025-09-11

    • 离子注入吸杂技术在64楔环硅光电二极管阵列探测器中的应用

    • 暂无标题

    • 传感器与微系统   1988年第3期 页码：53-57+61

    • DOI：10.13873/j.1000-97871988.03.015    

      中图分类号：

    • 纸质出版：1988

    移动端阅览

  • 离子注入吸杂技术在64楔环硅光电二极管阵列探测器中的应用[J]. 传感器与微系统, 1988,(3):53-57+61. DOI： 10.13873/j.1000-97871988.03.015.

  •  
  •  
icon
试读结束，您可以激活您的VIP账号继续阅读。
去激活 >
icon
试读结束，您可以通过登录账户，到个人中心，购买VIP会员阅读全文。
已是VIP会员？
去登录 >

0

浏览量

0

下载量

0

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。
提交
工具集
下载
参考文献导出
分享
收藏
添加至我的专辑

相关文章

暂无数据

相关作者

暂无数据

相关机构

暂无数据
0