纸质出版:1986
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敏感技术考察组访日报告[J]. 传感器与微系统, 1986,(4):1-11.
敏感技术考察组访日报告[J]. 传感器与微系统, 1986,(4):1-11. DOI: 10.13873/j.1000-97871986.04.001.
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一、概况 应电子工业部第49研究所技术委员会特邀名誉委员、日本东京工业大学工学博士教授高桥清的邀请
电子工业部敏感技术考察组一行三人于1985年5月30日到6月14日访问了日本
在访问期间
参加了日本第五届“传感器基础和应用研讨会”参观了在筑波举行的“国际科学技术博览会”;访问了日本东京工业大学、日电分
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