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基于可见光图像识别的绝缘子污秽等级判别
计算与测试 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于可见光图像识别的绝缘子污秽等级判别

    • Identification of insulator contamination grade based on visible light image recognition

    • 传感器与微系统   2019年第12期 页码:136-139
    • DOI:10.13873/j.1000-9787(2019)12-0136-04    

      中图分类号: TM216;TP391.41
    • 纸质出版:2019

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  • 刘子英, 肖建华, 邓芳明. 基于可见光图像识别的绝缘子污秽等级判别[J]. 传感器与微系统, 2019,(12):136-139. DOI: 10.13873/j.1000-9787(2019)12-0136-04.

    LIU Ziying, XIAO Jianhua, DENG Fangming. Identification of insulator contamination grade based on visible light image recognition[J]. 2019, (12): 136-139. DOI: 10.13873/j.1000-9787(2019)12-0136-04.

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