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基于SVD——形态降噪的TKEO故障诊断方法研究
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于SVD——形态降噪的TKEO故障诊断方法研究

    • Research on TKEO fault diagnosis method based on SVD-morphological noise reduction

    • 传感器与微系统   2017年36卷第7期 页码:29-32+37
    • DOI:10.13873/j.1000-9787(2017)07-0029-04    

      中图分类号: TH133.33
    • 纸质出版:2017

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  • [1]黄刚劲,范玉刚,冯早,齐鹏.基于SVD——形态降噪的TKEO故障诊断方法研究[J].传感器与微系统,2017,36(07):29-32+37. DOI: 10.13873/j.1000-9787(2017)07-0029-04.

    HUANG Gang-jin, FAN Yu-gang, FENG Zao, et al. Research on TKEO fault diagnosis method based on SVD-morphological noise reduction[J]. 2017, 36(7): 29-32+37. DOI: 10.13873/j.1000-9787(2017)07-0029-04.

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