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用于磨粒检测的同轴差分环状电容传感器设计
设计与制造 | 更新时间:2025-09-11
    • 用于磨粒检测的同轴差分环状电容传感器设计

    • 暂无标题

    • 传感器与微系统   2025年第7期 页码:89-93
    • DOI:10.13873/J.1000-9787(2025)07-0089-05    

      中图分类号: TP212;V263.6
    • 纸质出版:2025

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  • 何永勃, 程寅, 范文茹. 用于磨粒检测的同轴差分环状电容传感器设计[J]. 传感器与微系统, 2025,(7):89-93. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2025)07-0089-05.

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