中北大学理学院
纸质出版:2022
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尚璐瑶, 杨晓峰. 氧化铝薄膜的制备与结构缺陷研究[J]. 传感器与微系统, 2022,(9):4-7+15.
尚璐瑶, 杨晓峰. 氧化铝薄膜的制备与结构缺陷研究[J]. 传感器与微系统, 2022,(9):4-7+15. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2022)09-0004-04.
DOI:
阐述了氧化铝(Al
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O
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)薄膜4层结构与台阶结构,同时提出了薄膜中含有的2种缺陷结构。通过Ar
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溅射和退火获得氧化铝薄膜,基于超高真空非接触式调频原子力显微镜(UHV-NC-FM-AFM)测试技术,对所制作的氧化铝薄膜进行表征研究。通过对氧化铝薄膜构造与缺陷建模,结合实验分析,验证了薄膜结构和缺陷理论。缺陷结构高度为(50±20)pm
氧化铝薄膜台阶的高度约200 pm
薄膜周期结构与DFT计算理论模型中单元的大小基本一致,实验结果与理论值基本吻合,为后期蒸镀钯(Pd)实验奠定了基础。
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