北京航天控制仪器研究所
纸质出版:2022
移动端阅览
刘福民, 张乐民, 张树伟, 等. MEMS陀螺芯片的晶圆级真空封装[J]. 传感器与微系统, 2022,(1):15-18+23.
MEMS陀螺芯片的晶圆级真空封装[J]. 2022, (1): 15-18+23.
刘福民, 张乐民, 张树伟, 等. MEMS陀螺芯片的晶圆级真空封装[J]. 传感器与微系统, 2022,(1):15-18+23. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2022)01-0015-04.
MEMS陀螺芯片的晶圆级真空封装[J]. 2022, (1): 15-18+23. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2022)01-0015-04.
微机电系统(MEMS)陀螺需要真空封装以确保其检测精度
晶圆级真空封装可以使MEMS微结构避免芯片切割过程中的粘连以及颗粒污染
提高芯片的成品率。为实现MEMS陀螺芯片的晶圆级真空封装
提出了一种全硅MEMS陀螺芯片的晶圆级真空封装结构方案
并突破了Si-SiO
2
直接键合、吸气剂制备、金—硅(Au-Si)键合等关键技术
实现了MEMS芯片的晶圆级真空封装。Si-SiO
2
直接键合和Au-Si共晶键合的剪切强度分别达到了56.5 MPa和35.5 MPa
表明晶圆级封装中晶圆键合强度满足晶圆级真空封装的需要。晶圆级真空封装实现陀螺仪谐振最大Q值为103 879
对应的真空压力为2 Pa左右
陀螺仪芯片已达到MEMS陀螺工程化的需要。
微机电系统(MEMS)陀螺需要真空封装以确保其检测精度
晶圆级真空封装可以使MEMS微结构避免芯片切割过程中的粘连以及颗粒污染
提高芯片的成品率。为实现MEMS陀螺芯片的晶圆级真空封装
提出了一种全硅MEMS陀螺芯片的晶圆级真空封装结构方案
并突破了Si-SiO
2
直接键合、吸气剂制备、金—硅(Au-Si)键合等关键技术
实现了MEMS芯片的晶圆级真空封装。Si-SiO
2
直接键合和Au-Si共晶键合的剪切强度分别达到了56.5 MPa和35.5 MPa
表明晶圆级封装中晶圆键合强度满足晶圆级真空封装的需要。晶圆级真空封装实现陀螺仪谐振最大Q值为103 879
对应的真空压力为2 Pa左右
陀螺仪芯片已达到MEMS陀螺工程化的需要。
Zr基吸气剂薄膜的制备与性能研究 [D]. 徐瑶华. 北京有色金属研究总院 2016
Wafer-Level Vacuum Packaging of Smart Sensors [J] . Allan Hilton,Dorota S. Temple. Sensors . 2016 (11)
Titanium-Based Getter Solution for Wafer-Level MEMS Vacuum Packaging [J] . Chidambaram, Vivek,Ling, Xie,Bangtao, Chen. Journal of Electronic Materials . 2013 (3)
NEG thin films for under controlled atmosphere MEMS packaging [J] . Lionel Tenchine,Xavier Baillin,Christel Faure,Pierre Nicolas,Eugénie Martinez,Anne-Marie Papon. Sensors & Actuators: A. Physical . 2011 (1)
Review of vacuum packaging and maintenance of MEMS and the use of getters therein [J] . Rajeshuni Ramesham,Richard C. Kullberg. Journal of micro/nanolithography, MEMS, and MOEMS: JM3 . 2009 (3)
Wafer level packaging of MEMS [J] . Masayoshi Esashi. Journal of Micromechanics and Microengineering . 2008 (7)
0
浏览量
703
下载量
2
CSCD
关联资源
相关文章
相关作者
相关机构
京公网安备11010802024621