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基于改进SVDD的绝缘子污秽检测方法
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于改进SVDD的绝缘子污秽检测方法

    • Insulator pollution detection method based on improved SVDD

    • 传感器与微系统   2019年38卷第9期 页码:57-59
    • DOI:10.13873/J.1000-9787(2019)09-0057-03    

      中图分类号: TM216;TP181
    • 纸质出版:2019

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  • [1]孙磊,吴文海,柯坚,党帅涛.基于改进SVDD的绝缘子污秽检测方法[J].传感器与微系统,2019,38(09):57-59. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2019)09-0057-03.

    SUN Lei, WU Wenhai, KE Jian, et al. Insulator pollution detection method based on improved SVDD[J]. 2019, 38(9): 57-59. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2019)09-0057-03.

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