抗基准电压波动干扰的阻性传感器阵列扫描电路设计

王春凯; 孙旭光; 李彤; 舒心; 刘昶

doi:10.13873/J.1000-9787(2019)08-0087-04

Chinese

您当前的位置：

首页 >

文章列表页 >

抗基准电压波动干扰的阻性传感器阵列扫描电路设计

设计与制造 | 更新时间：2025-09-11

- 抗基准电压波动干扰的阻性传感器阵列扫描电路设计
- Design of scanning circuit for resistive sensor array against reference voltage fluctuation
- 传感器与微系统 2019年第8期页码：87-90
- 作者机构：
  
  1. 传感技术国家重点实验室(北方基地)中国科学院电子学研究所
  2. 中国科学院大学
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  国家自然科学基金资助项目(61774157)
- DOI：10.13873/J.1000-9787(2019)08-0087-04
  中图分类号： TP212
- 纸质出版：2019
- 稿件说明：
移动端阅览
王春凯, 孙旭光, 李彤, 等. 抗基准电压波动干扰的阻性传感器阵列扫描电路设计[J]. 传感器与微系统, 2019,(8):87-90.

WANG Chunkai, SUN Xuguang, LI Tong, et al. Design of scanning circuit for resistive sensor array against reference voltage fluctuation[J]. 2019, (8): 87-90.
王春凯, 孙旭光, 李彤, 等. 抗基准电压波动干扰的阻性传感器阵列扫描电路设计[J]. 传感器与微系统, 2019,(8):87-90. DOI： 10.13873/J.1000-9787(2019)08-0087-04.

WANG Chunkai, SUN Xuguang, LI Tong, et al. Design of scanning circuit for resistive sensor array against reference voltage fluctuation[J]. 2019, (8): 87-90. DOI： 10.13873/J.1000-9787(2019)08-0087-04.

摘要

提出了一种抗基准电压波动干扰的低复杂度阻性传感器阵列扫描电路

并通过理论分析、电路仿真的方式研究了基准电压波动对不同的阻性传感器阵列扫描电路产生的影响。通过和其他阻性传感器阵列扫描电路比较

本文设计的电路可以有效减小电路中基准电压波动的影响

同时降低电路的复杂度。

Abstract

A low-complexity circuit immune to voltage fluctuations is proposed. The influence of reference voltage fluctuation on scanning circuits for different resistive sensor arrays is researched through theoretical analysis and circuit simulation. Compared with two different scanning circuits for resistive sensor arrays

the proposed circuit cam reduce complexity of circuit and can reduce the impact of reference voltage fluctuations.

关键词

Keywords

references

浏览量

下载量

CSCD

文章被引用时，请邮件提醒。

提交

工具集

关联资源

一种基于反相器减小传感器信号线间串扰方法

CMOS图像传感器中的串扰与常用解决方案