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瞬变电磁法套损检测探头偏心校正方法
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 瞬变电磁法套损检测探头偏心校正方法

    • Transient electromagnetic method with probe eccentricity correction for casing damage inspection

    • 传感器与微系统   2018年第2期 页码:47-49+52
    • DOI:10.13873/J.1000-9787(2018)02-0047-03    

      中图分类号: TE937
    • 纸质出版:2018

    移动端阅览

  • 刘红兰, 安百新, 杨玲, 等. 瞬变电磁法套损检测探头偏心校正方法[J]. 传感器与微系统, 2018,(2):47-49+52. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2018)02-0047-03.

    LIU Hong-lan, AN Bai-xin, YANG Ling, et al. Transient electromagnetic method with probe eccentricity correction for casing damage inspection[J]. 2018, (2): 47-49+52. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2018)02-0047-03.

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