二维光电自准直仪中分划板研究

王晔; 于建楠; 周志炜

doi:10.13873/J.1000-9787(2016)12-0024-03

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二维光电自准直仪中分划板研究

研究与探讨 | 更新时间：2025-09-11

- 二维光电自准直仪中分划板研究
- Study on reticle in two-dimensional photoelectric auto collimator
- 传感器与微系统 2016年35卷第12期页码：24-26+29
- 作者机构：
  
  中国电子科技集团公司第四十九研究所
- 作者简介：
- 基金信息：
- DOI：10.13873/J.1000-9787(2016)12-0024-03
  中图分类号： TH741.14
- 纸质出版：2016
- 稿件说明：
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[1]王晔,于建楠,周志炜.二维光电自准直仪中分划板研究[J].传感器与微系统,2016,35(12):24-26+29.

WANG Ye, YU Jian-nan, ZHOU Zhi-wei. Study on reticle in two-dimensional photoelectric auto collimator[J]. 2016, 35(12): 24-26+29.
[1]王晔,于建楠,周志炜.二维光电自准直仪中分划板研究[J].传感器与微系统,2016,35(12):24-26+29. DOI： 10.13873/J.1000-9787(2016)12-0024-03.

WANG Ye, YU Jian-nan, ZHOU Zhi-wei. Study on reticle in two-dimensional photoelectric auto collimator[J]. 2016, 35(12): 24-26+29. DOI： 10.13873/J.1000-9787(2016)12-0024-03.

摘要

根据二维光电自准直仪的工作原理和结构特点

针对V形分划板、N形分划板和M形分划板在线阵CCD器件增维测量中的作用原理进行了研究

得出其在增维测量中的优点和缺点

为不同应用条件的二维光电自准直仪选用分划板提供了参考依据。

Abstract

Based on working principle and structure characteristics of two-dimensional photoelectric autocollimator

effect principle of V-shape and N-shape and M-shape forms of reticle in line array CCD in dimension increasing measurement is studied

in its advantages and disadvantages dimensional increasing measurement is obtained provide reference for reticle selection in different application conditions for twodimensional photoelectric autocollimator.

关键词

Keywords

references

面向大尺寸检测CCD图像中心提取精度的研究 [J]. 林润芝,杨学友,邹剑,邾继贵,吴斌. 传感器与微系统 . 2010(12)

光电测量二维微角位移的新方法研究与实现 [J]. 罗钧,万文通,卢嘉江. 传感器与微系统 . 2008(08)

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CCD增维测量原理及其在二维光电准直仪中的应用 [J]. 寇欣宇,王向军. 计量技术 . 2000(07)

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