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接触式扫描过程中探针-样品赫兹耦合的建模与分析
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 接触式扫描过程中探针-样品赫兹耦合的建模与分析

    • Modeling and analysis of probe-sample Hertz coupling in contact scanning

    • 传感器与微系统   2016年35卷第3期 页码:12-15
    • DOI:10.13873/J.1000-9787(2016)03-0012-04    

      中图分类号: TB302
    • 纸质出版:2016

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  • [1]陈伟,许斌,赵世平.接触式扫描过程中探针-样品赫兹耦合的建模与分析[J].传感器与微系统,2016,35(03):12-15. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2016)03-0012-04.

    CHEN Wei, XU Bin, ZHAO Shi-ping. Modeling and analysis of probe-sample Hertz coupling in contact scanning[J]. 2016, 35(3): 12-15. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2016)03-0012-04.

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