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基于双掩模图像差影的工业产品表面缺陷检测
计算与测试 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于双掩模图像差影的工业产品表面缺陷检测

    • Industrial products surface defects detection based on image subtraction with double masks

    • 传感器与微系统   2015年34卷第5期 页码:127-129+133
    • DOI:10.13873/J.1000-9787(2015)05-0127-03    

      中图分类号: TP391.41
    • 纸质出版:2015

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  • [1]化春键,邓朝省,陈莹.基于双掩模图像差影的工业产品表面缺陷检测[J].传感器与微系统,2015,34(05):127-129+133. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2015)05-0127-03.

    HUA Chun-jian, DENG Chao-sheng, CHEN Ying. Industrial products surface defects detection based on image subtraction with double masks[J]. 2015, 34(5): 127-129+133. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2015)05-0127-03.

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