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基于超声衍射时差法的缺陷检测技术仿真分析
研究与探讨 | 更新时间:2025-09-11
    • 基于超声衍射时差法的缺陷检测技术仿真分析

    • Simulation analysis of defect testing technology based on ultrasonic TOFD method

    • 传感器与微系统   2015年34卷第5期 页码:55-58
    • DOI:10.13873/J.1000-9787(2015)05-0055-04    

      中图分类号: TG115.28
    • 纸质出版:2015

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  • [1]宋小春,王亚午,涂君.基于超声衍射时差法的缺陷检测技术仿真分析[J].传感器与微系统,2015,34(05):55-58. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2015)05-0055-04.

    SONG Xiao-chun, WANG Ya-wu, TU Jun. Simulation analysis of defect testing technology based on ultrasonic TOFD method[J]. 2015, 34(5): 55-58. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2015)05-0055-04.

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