1. 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室
2. 中北大学电子测试技术国防科技重点实验室
纸质出版:2014
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[1]喻兰芳,梁庭,熊继军,崔海波,刘雨涛,张瑞.4H-SiC ICP深刻蚀工艺研究[J].传感器与微系统,2014,33(10):8-10.
YU Lan-fang, LIANG Ting, XIONG Ji-jun, et al. Research on ICP deep etching process of 4H-SiC[J]. 2014, 33(10): 8-10.
[1]喻兰芳,梁庭,熊继军,崔海波,刘雨涛,张瑞.4H-SiC ICP深刻蚀工艺研究[J].传感器与微系统,2014,33(10):8-10. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2014)10-0008-03.
YU Lan-fang, LIANG Ting, XIONG Ji-jun, et al. Research on ICP deep etching process of 4H-SiC[J]. 2014, 33(10): 8-10. DOI: 10.13873/J.1000-9787(2014)10-0008-03.
SiC是一种新型的半导体材料
由于化学性质十分稳定
目前还未发现有哪种酸或碱能在室温下对其起腐蚀作用
因此
在SiC的加工工艺中常采用干法刻蚀。采用GSE 200plus刻蚀机对SiC进行刻蚀
研究了刻蚀气体、源功率RF1、射频功率RF2及腔室压强对刻蚀结果的影响
并对产生的结果进行了相关分析。提出了一种SiC ICP深刻蚀方法
对SiC深刻蚀技术具有重要的指导意义。
SiC is a new type semiconductor material
because of its stable chemical properties
any acid or alkali which can corrode it at room temperature have not be found
so dry etching is often used in SiC machining.GSE200 plus etching machine is used to etch SiC
influence of etching gas
source power RF1
radiofrequency power RF2 and chamber pressure on etching result are studied
relative analysis of generated results is carried out.A SiC ICP deep etching method is proposed
which has an important guiding significance on SiC deep etching technique.
ICP腔体压力对直流偏压的影响 [J]. 张力江,幺锦强,周俊,王敬松. 半导体技术 . 2010(08)
ICP刻蚀技术与模型 [J]. 张鉴,黄庆安. 微纳电子技术 . 2005(06)
ICP刻蚀技术研究 [J]. 郑志霞,冯勇建,张春权. 厦门大学学报(自然科学版) . 2004(S1)
SiC薄膜高温压力传感器 [J]. 朱作云,李跃进,杨银堂,柴常春,贾护军,韩小亮,王文襄,刘秀娥,王麦广. 传感器技术 . 2001(02)
利用氟化气体和氧气的混和物进行SiC薄膜的反应离子刻蚀 [J]. 许艳阳. 半导体情报 . 1995(05)
碳化硅高温压力传感器设计与工艺实验研究 [D]. 严子林. 清华大学 2011
用于恶劣环境的碳化硅微机电系统[M]. 科学出版社 , (英) 张 (Cheung, 2010
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