纸质出版:1998
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InAs薄膜Hall器件[J]. 传感器与微系统, 1998,(5):7.
InAs薄膜Hall器件[J]. 传感器与微系统, 1998,(5):7. DOI:
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利用分子束外延(MBE)生长的高迁移率InAs外延层成功制备了的薄膜Hal器件。这种Hal器件具有灵敏度高、温度特性好等优点。室温下的积灵敏度和电压相关的灵敏度分别为11mV/mA·kGs和40mV/V·kGs(灵敏度比相同掺杂的GaAsHal器件高50%)。在(20~70)℃温度区域内,内阻温度系数和Hal电压温度系数分别为8×10-4/℃,-2×10-3/℃(恒流驱动)和-3×10-3/℃(恒压驱动)。
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