软基底薄膜热敏电阻器的失效分析

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软基底薄膜热敏电阻器的失效分析

更新时间：2025-09-11

- 软基底薄膜热敏电阻器的失效分析
- 暂无标题
- 传感器与微系统 1996年第6期页码：3
- 作者机构：
- 作者简介：
- 基金信息：
  
  “八五”国家重点科技攻关项目
- DOI：
  中图分类号： TP212
- 纸质出版：1996
- 稿件说明：
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软基底薄膜热敏电阻器的失效分析[J]. 传感器与微系统, 1996,(6):3.
软基底薄膜热敏电阻器的失效分析[J]. 传感器与微系统, 1996,(6):3. DOI：

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摘要

对软基底薄膜热敏电阻器的可靠试验进行了研究，由试验数据找出失效原因，并提出改进措施。

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关键词

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卢其庆,张安康编.半导体器件可靠性与失效分析[M].江苏科学技术出版社,1981.

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